ВИЗНАЧЕННЯ ТЕХНІЧНОГО СТАНУ СКЛАДОВИХ ВТОРИННИХ ДЖЕРЕЛ ЖИВЛЕННЯ ЗА ФІЗИКО-ХІМІЧНИМИ ПРОЦЕСАМИ В ЕЛЕКТРОЛІТИЧНИХ КОНДЕНСАТОРАХ ПІД ЧАС ЕКСПЛУАТАЦІЇ

Анатолій  Міночкін; Василь Кузавков; Сергій  Погребняк

doi:10.33099/2311-7249/2021-40-1-99-104

Автор(и)

Анатолій Міночкін Військовий інститут телекомунікацій та інформатизації імені Героїв Крут, Україна https://orcid.org/0000-0002-4123-604X
Василь Кузавков Військовий інститут телекомунікацій та інформатизації імені Героїв Крут, Україна https://orcid.org/0000-0002-0655-9759
Сергій Погребняк Військовий інститут телекомунікацій та інформатизації імені Героїв Крут, Україна https://orcid.org/0000-0002-7902-9847

DOI:

https://doi.org/10.33099/2311-7249/2021-40-1-99-104

Ключові слова:

телекомунікаційне обладнання, вторинні джерела живлення, електролітичні конденсатори, фізико-хімічні процеси, безконтактний індукційний метод

Анотація

Умови сьогодення та перспективи розвитку ЗС України вимагають підвищення надійності телекомунікаційного обладнання, як складової системи управління. Стан та умові існування власного військово-промислового комплексу, не дозволяють в повній мірі забезпечити війська достатньою кількістю нових зразків сучасного телекомунікаційного обладнання. Одним зі способів вирішувати поставлені завдання є продовження терміну експлуатації наявного телекомунікаційного обладнання. Це можливо реалізувати шляхом здійснення якісного, своєчасного та повного технічного обслуговування. Таким чином, важливим завданням існуючої системи технічного обслуговування та ремонту стає пошук нових та удосконалення існуючих методів визначення технічного стану телекомунікаційного обладнання, підвищення достовірності прогнозу його працездатності.

Виходячи зі сказаного в даній статті проаналізовано та узагальнено основні проблемні питання, які стосуються системи діагностування телекомунікаційного обладнання. Розглянуті особливості експлуатації вторинних джерел живлення сучасного телекомунікаційного обладнання подвійного призначення. Описано специфіку використання електролітичних конденсаторів у вторинних джерелах живлення сучасного телекомунікаційного обладнання подвійного призначення. Проведений порівняльний аналіз існуючих на теперішній час способів діагностування. Запропоновано альтернативну можливість визначення фактичного технічного стану зазначених елементів (без вилучення зі схеми) в реальному часі безконтактним індукційним методом спираючись на досліджені фізико-хімічні процесів в них.

Посилання

Артюх В.М. Современный этап разработки и строительства Единой автоматизированной системы управления Вооруженными Силами Украины / В. М. Артюх, В. К. Медведев // Оборонный вестник. – 2012. – № 1. – С. 15–24. – Режим доступу: http://defpol.org.ua/site/files/OV_1_2012_rus.pdf

Про рішення Ради національної безпеки і оборони України від 20 травня 2016 року “Про Стратегічний оборонний бюлетень України” [Електронний ресурс]: указ [видано Президентом України 06 червня 2016 р. №240/2016].

Сакович Л.М. Методика фізичного діагностування цифрових пристроїв об’єктів радіоелектронної техніки / Л.М. Сакович, С.І. Глухов, О.С. Бабій, А.О.Гальоса // Системи озброєння і військова техніка, 2020, № 2(62). – С. 93-101. URL: https://journal-hnups.com.ua/index.php/soivt/article/download/337/271/

Глухов С.І. Методика діагностування цифрових пристроїв радіоелектронної техніки на основі методів фізичного діагностування та результатів прискорених випробувань // Збірник наукових праць військового інституту Київського національного університету імені Тараса Шевченка – К.: ВІКНУ 2019. – С. 12-18.

Погребняк С.В. Аналіз основних несправностей новітнього радіоелектронного озброєння / С.В.Погребняк // Збірник тез доповідей науково-практичної конференції НАСВ Львів. 2020. – С.164.

Погребняк С.В. Проблематика діагностування новітніх систем телекомунікаційного обладнання/ С.В. Погребняк // Збірник тез доповідей науково-практичної конференції Військового інституту телекомунікацій та інформатизації 2020. С.- 107.

Parler S.G. Thermal Modeling of Aluminum Electrolytic Capacitors // IEEI Industry Applications Society Conference.1999.

Mirsky G. Determining end-of-life, ESR, and lifetime calculations for electrolytic capacitors at higher temperatures. // EDN. 2008. August.

Parler S. G. Deriving Life Multipliers for Aluminum Electrolytic Capacitors // IEEE Power Electronics Society Newsletter. 2004. Vol. 16, № 1.

Вишнівський В.В. Аналіз методів форсованих випробувань для отримання залежності зміни діагностичного параметра від часу напрацювання напівпровідникових РЕК. / В.В.Вишнівський, В.В.Кузавков, В.В. Василенко. // Системи управління, навігації та зв’язку. – 2015. – №1. – С.18 – 20.

Кузавков В.В. Шляхи вдосконалення системи технічного обслуговування. / В.В. Кузавков, Г.І. Гайдур, Л.Т. Коваль // Системи управління, навігації та зв’язку. – 2014. – №4. – С. 86 – 92.

Жердєв М.К. Аналіз стану системи відновлення технічних засобів радіоелектронного озброєння в зоні АТО. / М.К. Жердєв, В.В. Кузавков, Є.В. Редзюк, К.О. Єфанова // Збірник наукових праць Військового інституту телекомунікацій та інформатизації. – 2017. – №2. – С. 35 – 40.

Креденцер Б.П. Методика оцінки ефективності застосування автономного автоматизованого пристрою діагностування параметрів в системі військового ремонту. / Б.П. Креденцер, М.К. Жердєв, В.В. Кузавков // Збірник наукових праць Військового інституту телекомунікацій та інформатизації. – 2016. – №1. – С. 81 – 86.

Вишнівський В.В. Безконтактний індукційний метод діагностування радіоелектронних блоків. / В.В. Вишнівський, М.К. Жердєв, Б.П. Креденцер, В.В. Кузавков, Є.В. Редзюк // Збірник наукових праць Військового інституту Київського національного університету імені Тараса Шевченка. – 2013. – №43. – С. 17 – 23.

Кузавков В.В. Застосування методу валсного випромінювання для технічної діагностики радіоелектронних блоків. / В.В. Кузавков,

О.Г. Янковський // Збірник наукових праць Одеської державної академії технічного регулювання та якості. – 2014. – №2. – С. 58 – 62.

Кузавков В.В. Застосування методів форсованих випробувань для отримання залежності діагностичного параметра від часу напрацювання цифрових радіоелектронних компонентів. / Василь Кузавков, Євген Редзюк // Збірник НТУУ “КПІ”. – 2014. – С. 76 – 84.