Кузавков В, Романенко М, Болотюк Ю. Умови застосування методу власного випромінювання при вирішенні задач технічної діагностики напівпровідникових структур . СІТуСБО [інтернет]. 17, Грудень 2021 [цит. за 05, Лютий 2025];42(3):55-62. доступний у: https://sit.nuou.org.ua/article/view/245665