[1]
В. Кузавков, М. Романенко, і Ю. Болотюк, «Умови застосування методу власного випромінювання при вирішенні задач технічної діагностики напівпровідникових структур », СІТуСБО, т. 42, вип. 3, с. 55–62, Груд 2021.