КУЗАВКОВ, В.; РОМАНЕНКО, М.; БОЛОТЮК, Ю. Умови застосування методу власного випромінювання при вирішенні задач технічної діагностики напівпровідникових структур . Сучасні інформаційні технології у сфері безпеки та оборони, Київ, Україна, v. 42, n. 3, p. 55–62, 2021. DOI: 10.33099/2311-7249/2021-42-3-55-62. Disponível em: https://sit.nuou.org.ua/article/view/245665. Acesso em: 5 лют. 2025.